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超快速冷熱沖擊試驗機
簡要描述：超快速冷熱沖擊試驗機適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。
產品型號：QS-710- 廠商性質：生產廠家
- 更新時間：2024-11-22
- 訪 問 量：4398
詳情介紹
超快速冷熱沖擊試驗機工作原理
1，試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住，形成一個較密閉空間的測試腔，試驗機輸出的高溫或低溫氣流，使被測試品表面溫度發(fā)生劇烈變化，從而完成相應的高低溫沖擊試驗；
2，可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件，將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗箱相比，溫變變化沖擊速率更快
超快速冷熱沖擊試驗機滿足試驗標準
1．GB/T 2423.1-2008試驗A：低溫試驗方法；
2．GB/T 2423.2-2008試驗B：高溫試驗方法；
3．GB/T2423.22-2012試驗N: 溫度變化試驗方法
4. GJB/150.3-2009高溫試驗
5. GJB/150.4-2009低溫試驗
6. GJB/150.5-2009溫度沖擊試驗/快速降溫儀
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